Surface Analysis by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): Principles and Applications from Swiss laboratories

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Etat: Public
Version: Final published version
Licence: CC BY 4.0
ID Serval
serval:BIB_BA425E5534BE
Type
Article: article d'un périodique ou d'un magazine.
Collection
Publications
Institution
UNIL/CHUV
Titre
Surface Analysis by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): Principles and Applications from Swiss laboratories
Périodique
CHIMIA
Auteur⸱e⸱s
Marin Carbonne Johanna, Bouvier Anne Sophie, Baumgartner Lukas, rubatto Daniela, Bovay Thomas, Plane Florent, Escrig Stephane, Kiss Andras
ISSN
2673-2424
0009-4293
Statut éditorial
Publié
Date de publication
23/02/2022
Volume
76
Numéro
1-2
Pages
26
Mots-clé
General Medicine, General Chemistry
URN
urn:nbn:ch:serval-BIB_BA425E5534BE0
OAI-PMH
oai:serval.unil.ch:BIB_BA425E5534BE
DOI
10.2533/chimia.2022.26
Open Access
Oui
Création de la notice
07/03/2022 21:20
Dernière modification de la notice
08/03/2022 7:12
Données d'usage